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日本AET公司最新推出了高频(微波)介电常数测试仪新品,专用于测试5G低介电常数和介电损耗的薄膜样品

作者:亚铭(北京)科技有限公司 浏览: 发表时间:2020-03-17 00:00:00

5G时代的到来催生材料的变革与需求,新技术的出现对材料提出新的性能要求,包括微波介质陶瓷、PCB材料、半导体材料、手机天线材料、手机外壳材料、电磁屏蔽材料、导热散热材料等都将在5G应用中发生改变。

5G要求更高的电磁波传输速度、更小的信号传播损失,这意味着应用材料的介电常数和介电损耗都要尽可能的小,薄膜正是满足这些苛刻要求的材料。

由于薄膜材料厚度达到纳米级,而介电损耗达到10-4以下,因此,目前的介电测试仪器无法满足测试要求。

日本AET公司最新推出了介电常数测试新品,专门测试低介电常数和介电损耗的薄膜样品。


该产品可测试频率最高达到40GHz

介电常数范围在Epsilon:1~5;  准确度:accuracy: +/- 1%,

介电损耗范围在Tangent delta: 0.0001~0.01;准确度accuracy: +/- 5%。



亚铭(北京)科技有限公司作为日本AET.Inc正式授权的中国区总代理商,全权处理日本AET.Inc的高频(微波)介电常数测试仪产品在中国的销售和技术支持。


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